08.07.2014

Моё участие в конференции «Ракурса» «От снимка к карте»

“В этом году конференция «Ракурса» будет проводиться в 14 раз и первый раз в Азии. Это говорит, по крайней мере, о двух вещах: 1) конференция утвердила себя как значимое и интересное мероприятие и 2) организаторы понимают растущую важность азиатского рынка.

Первый раз я принял участие в конференции, которая прошла в итальянской Гаэте в 2010 году и сразу же полюбил формат мероприятия. Конференция – это большое разнообразие тем и форм участия: научно-технические публикации, производственные проекты, правительственные и коммерческие доклады, новейшая информация об оборудовании и программном обеспечении. Ракурс проводит мастер классы по своим продуктам. Всегда есть комнаты для переговоров, где можно пообщаться с участниками конференции. Достаточно редко можно встретить столь большое разнообразие форм активности. Но на этом программа не оканчивается. Великолепный гала-ужин, развлекательные спортивные мероприятия и экскурсия по окрестностям.

Место проведения конференции выбирается очень тщательно: обычно это гостиница 4-5 звезд, где участники могут найти все необходимое для духовного и физического комфорта.

Лично мне эта конференция дает уникальную возможность получить из первых рук информацию о статусе развития фотограмметрии, дистанционного зондирования и картографии в России и некоторых других странах, обычно не представленных на международных конференциях.

Итак, есть много хороших причин, которые побуждают меня участвовать в предстоящей конференции, и я буду участвовать так часто, как это возможно. Конференция на Хайнане будет интересна и тем, как азиатский и, в частности, китайский рынки будут сочетаться на мероприятии.”
Проф. Армин Грюн, Швейцарская высшая техническая школа Цюриха

Профессор Армин Грюн — признанный специалист в области фотограмметрии и 3D моделирования, в 2008 г. награжден золотой медалью Брока (ISPRS). Профессор примет участие в конференции на Хайнане с докладами, посвященными трехмерному моделированию.